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M1砝碼期間核查方法和評定原則:
1直接測量法因F2等級砝碼的*大允許誤差是M1砝碼*大允許誤差的1/3以下,可以用比M1砝碼**級的F2等級砝碼,在同*臺相應(yīng)級別電子天平或機(jī)械天平上對M1砝碼進(jìn)行核查,則│x1-x2│≤│MPE│,(1)式(1)中,x1為M1砝碼在天平上得到的示值;x2為F2等級砝碼在天平上得到的示值;MPE為被核查的M1砝碼的*大允許誤差。采用直接測量法對M1砝碼進(jìn)行期間核查,當(dāng)x1和x2相減的*值小于等于M1砝碼的*大允許誤差的*值時,可以判斷被核查的M1砝碼符合要求。
2核查標(biāo)準(zhǔn)法
2.1核查標(biāo)準(zhǔn)在F2等級砝碼由于某些原因無法使用時,可用核查標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行M1砝碼的期間核查。核查標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)具備2個條件:
①*度等級要*,比M1砝碼**級或至少同級;
②選用的核查標(biāo)準(zhǔn)性能穩(wěn)定,重復(fù)性好,且不做其他用途。因此,可以用其他狀態(tài)穩(wěn)定的砝碼作為核查標(biāo)準(zhǔn)。選用的核查標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)經(jīng)上級檢定機(jī)構(gòu)檢定合格,且測量不確定度小于被核查砝碼的不確定度,并且應(yīng)作好標(biāo)記,按照有關(guān)規(guī)定堆放和使用。
2.2核查方法和評定
2.2.1確定M1砝碼示值的平均值y1盡可能在理想的環(huán)境條件下,重復(fù)用天平測量被核查的M1砝碼,測量次數(shù)n≥10,并算出其算術(shù)平均值y1。
2.2.2M1砝碼測量結(jié)果不確定度分析
①天平分度值的分辨率引入的標(biāo)準(zhǔn)不確定度分量u1;
②電源干擾引入的標(biāo)準(zhǔn)不確定度分量u2;
③天平偏載誤差引入的標(biāo)準(zhǔn)不確定度分量u3;
④核查標(biāo)準(zhǔn)引入的標(biāo)準(zhǔn)不確定度分量u4。對砝碼測量不確定度B類評定的來源分析時,力求不遺漏、不重復(fù)。(3)合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度。合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度為(4)擴(kuò)展不確定度評定。擴(kuò)展不確定度U是由合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度的倍數(shù)得到,即將合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度u(cm)擴(kuò)展了k倍得到,即U=ku(cm)。(5)3.2.2.3評定公式核查標(biāo)準(zhǔn)法的評定公式為│y1-y2│≤U21+U2姨ref,(6)式(6)中,y1為M1砝碼在天平上示值的平均值;y2為核查標(biāo)準(zhǔn)經(jīng)上級檢定機(jī)構(gòu)檢定的示值;U1為被核查砝碼的擴(kuò)展不確定度,k=2;Uref為核查標(biāo)準(zhǔn)的擴(kuò)展不確定度,k=2。
3比對法
3.1實驗室內(nèi)比對法如果實驗室內(nèi)有2臺*度等級和測量范圍相同、經(jīng)過檢定合格的天平,就可以使用此方法。對被核查的M1砝碼分別在2臺天平上用直接測量法進(jìn)行測量,得到z1和z2。評定公式為│z1-z2│≤│MPE│,(7)式(7)中,z1為被核查砝碼在2臺天平上測量示值的平均值;z2為F2等級砝碼在2臺天平上測量示值的平均值。實驗室內(nèi)比對法可以消除由于天平的問題而造成錯誤判斷。3.3.2實驗室間比對法與其他實驗室之間的比對,同樣也可以起到期間核查的作用。通過2個或多個實驗室對砝碼進(jìn)行計量性能的判別,可以消除由于本實驗室的問題而造成的誤判。(1)2個實驗室比對評定公式為│w1-w2│≤U21+U2姨2。(8)式(8)中,w1為本實驗室測量的結(jié)果;w2為比對方實驗室測量的結(jié)果;U1為本實驗室測量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度,k=2;U2為比對方實驗室測量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度,k=2。(2)多個實驗室比對評定公式為│w1-wi│≤U21+U2姨i。(9)式(9)中,w1為本實驗室測量的結(jié)果;wi為參加*有比對方實驗室測量結(jié)果的平均值;U1為本實驗室測量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度,k=2;Ui為其他比對方實驗室測量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度,k=2。
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